熱釋光輻照儀是一種利用熱釋光原理檢測材料是否經過輻照處理的設備，主要用于食品輻照檢測、考古學、地質學等領域。其核心功能是通過測量材料在輻照后儲存的能量釋放情況，判斷材料是否接受過輻照處理，并可定量分析輻照劑量。
核心功能：
輻照檢測：通過測量材料在輻照后儲存的能量釋放情況，判斷材料是否接受過輻照處理。
劑量分析：定量分析輻照劑量，為輻射防護、環(huán)境監(jiān)測等領域提供數據支持。
測量原理：
熱釋光效應：當某些晶體材料(如氟化鋰、硫酸鈣等)受到X射線、γ射線等電離輻射照射時，輻射能量會使材料晶格中的電子脫離束縛，被晶格缺陷(如雜質、空位)捕獲并儲存，形成“能量陷阱”。加熱時，被捕獲的電子獲得能量脫離陷阱，回到穩(wěn)定狀態(tài)，同時將儲存的輻射能量以可見光的形式釋放。釋放的光強度與材料吸收的輻射劑量在一定范圍內呈線性關系。
光電轉換：通過光電倍增管將光信號轉化為電信號，經數據處理單元計算得出累積輻射劑量。
應用領域
輻射劑量測量：廣泛應用于環(huán)境監(jiān)測照射劑量測量、輻射防護等領域，確保人員和設備的安全。
考古學：通過測量陶瓷器物自燒制以來的累積劑量，結合年劑量，推算年代，誤差范圍控制在±5%以內。
地質學：研究巖石孔隙率、年代測定等，為地質勘探提供數據支持。
食品輻照檢測：熱釋光技術適用于可分離出硅酸鹽礦物質的食品輻照檢測。
當前位置：
地址：北京市順義區(qū)牛欄山鎮(zhèn)騰仁路22號3幢2層201室
郵箱：info@clovertek.com
傳真：86-010-88026856